Ihre Vorteile

  • Messung in kleinsten Bauräumen (ab Ø 0,1 mm)
  • Ergebnisse mit Nanometergenauigkeit
  • Berührungslos und verschleißfrei
  • Ideal für eine schnelle 100-Prozent-Prüfung
  • Nahezu material- und oberflächenunabhängig
  • Einzelpunkt- und Mehrstellenmessungen möglich
  • Erzeugung von 2D-Profilen und 3D-Punktewolken
  • Normgerechte Qualitätskontrolle nach DIN EN ISO
  • Voll automatisierbar und integrierbar
  • Elektromagnetisch verträglich (EMV)

Systemkenndaten

FDM-1

Für höchste Genauigkeit

Messbereich 80 µm
Auflösung (typ. Standard­abweichung) < 3 nm*
Durchmesser Messsonde ≥ 50 µm

*Bei Punktmessung mit einem Arbeitsabstand von 0,1 mm auf poliertem Glas.

FDM-2

Großer Messbereich

Messbereich 1 mm
Auflösung (typ. Standard­abweichung) < 10 nm*
Durchmesser Messsonde ≥ 50 µm

*Bei Punktmessung mit einem Arbeitsabstand von 0,1 mm auf poliertem Glas.

Allgemeine Parameter

Messprinzip

kurzkohärente Interferometrie

Sondendurchmesser

0,05 / 0,08 / 0,125 / 0,8 / 1,3 – 5 mm

Mess­bare Materi­alien und Ober­flächen

Glas, Metall, Keramik, Kunst­stoff u.a. – trans­parent, spiegelnd, matt

Innen­durch­messer Prüfling

ab 0,1 mm

Mess­richtung

axial (0°), winklig (45° – 90°)

Mess­frequenz

bis zu 20 kHz (ab­hängig vom Mess­objekt)

Mehr­stellen­messung

paralle­les oder sequen­tielles Aus­lesen mehrerer Sonden möglich

Software

FDM­Control (Steuerung) / Data­Viewer (Auswertung)

Programmier­schnitt­stellen

API, DLL

System­schnitt­stellen (konfigurierbar)

Trigger IN, Gate IN, Trigger OUT: TTL 5V, Ethernet, GPIO

Strom­versorgung

230 V (AC)

Anwendungen

Datenschutz-Übersicht
fionec GmbH

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