Ihre Vorteile

  • Messung in kleinsten Bauräumen, ab Ø 0,1 mm
  • Hochauflösende, berührungslose Messungen
  • Berührungslos und verschleißfrei
  • Geeignet für schnelle 100-Prozent-Prüfungen
  • Geeignet für viele Materialien und Oberflächen
  • Einzelpunkt- und Mehrstellenmessungen möglich
  • Erzeugung von 2D-Profilen und 3D-Punktewolken
  • Unterstützung normgerechter Qualitätskontrolle nach DIN EN ISO
  • Automatisierbar und integrierbar
  • Elektromagnetisch verträglich, EMV

Systemkenndaten

FDM-1

Für hochauflösende Messaufgaben

Messbereich 80 µm
Abstandäquivalentes Rauschen < 15 nm
Durchmesser Messsonde ab 50 µm

FDM-2

Für größere Messbereiche

Messbereich 1 mm
Abstandäquivalentes Rauschen < 100 nm
Durchmesser Messsonde ab 50 µm

Allgemeine Parameter

Messprinzip

kurzkohärente Interferometrie

Sondendurchmesser

0,05 / 0,08 / 0,125 / 0,8 / 1,3 – 5 mm

Mess­bare Materi­alien und Ober­flächen

Glas, Metall, Keramik, Kunst­stoff u.a. – trans­parent, spiegelnd, matt

Innen­durch­messer Prüfling

ab 0,1 mm

Mess­richtung

axial (0°), winklig (45° – 90°)

Mess­frequenz

bis zu 40 kHz (ab­hängig vom Mess­objekt)

Mehr­stellen­messung

paralle­les oder sequen­tielles Aus­lesen mehrerer Sonden möglich

Software

FDM­Control (Steuerung) / Data­Viewer (Auswertung)

Programmier­schnitt­stellen

API, DLL

System­schnitt­stellen (konfigurierbar)

Trigger IN, Gate IN, Trigger OUT: TTL 5V, Ethernet, GPIO

Strom­versorgung

100–240 V AC, 50/60 Hz

Anwendungen