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  • Integrierte Messtechnik

    Integrierte Fertigungs­messtechnik

    Für Inline-Messungen im Produktionstakt

    Produktions- und Prüfprozesse laufen zunehmend automatisiert ab. Damit bei abnehmender menschlicher Kontrolle die hohen Ansprüche an Produktqualität und Prozesssicherheit erfüllt werden können, ist schnelle, hochgenaue und flexible Inline-Messtechnik gefordert.

    Die faseroptischen Messsysteme von fionec verfügen daher über:

    • Schnittstellen (seriell und LAN)
      Zur unkomplizierten Einbindung in bestehende Prozesse und Maschinen. Industrie-4.0-fähig.

    • Miniaturisierte Sonden
      Die kompakte Bauweise ermöglicht eine einfache Integration in vorhandene Mess- und Prüfeinheiten. Auch ein Nachrüsten von UP-Werkzeugmaschinen ist möglich.

    • Modulbauweise und Verbindungen aus Lichtwellenleitern
      Die Datenübertragung über Glasfasern ist schnell und flexibel. In der Länge sind die Kabel fast beliebig variabel. Sonde und Auswerteeinheit lassen sich somit auch in großer Distanz voneinander positionieren.

    Mit den integrierten Messlösungen von fionec greifen Produktion und Prüfung direkt ineinander. Kritische Qualitätsdaten werden schnell, zerstörungsfrei und hochgenau ausgegeben. Bei Bedarf fließen die Daten unmittelbar in den Prozess zurück und lösen gegebenenfalls Korrekturschritte aus (Closed-Loop-Fertigung).

    Serie FDM

    Die hochgenauen Messsysteme der Serie FDM sind besonders flexibel in ihrem Aufbau. Die faseroptische Messsonde und die Auswerteeinheit können bei Bedarf auch voneinander entfernt aufgebaut werden. Eine Integration der Technologie in Koordinaten­mess­geräte oder bestehende Fertigungs­anlagen ist problemlos möglich.
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    Rauheitsmessplatz

    Unser Rauheitsmessplatz RMP ist optimiert für hochgenaue Rauheits- und Oberflächenmessungen an Präzisionsdrehteilen. Die präzise Zuführung der Miniaturmesssonde durch die Mechanik kann lateral oder vertikal erfolgen.
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    Ihre Vorteile

    • Höchste Genauigkeit

      Nach dem Interferenzprinzip liefert die Sensorik nanometergenaue, absolute Werte. Selbst nach Unterbrechung des Messvorgangs – z.B. durch eine Messstrahlabschattung oder Oberflächendefekte – geht der Messwert nicht verloren. Die typische Standardabweichung liegt im einstelligen Nanometerbereich.

    • Absolut berüh­rungs­los

      Für die hochgenaue Erfassung von Mikrostrukturen bieten sich optische, berührungslose Messverfahren wie die Weißlichtinterferometrie an. Im Gegensatz zu taktilen Messgeräten beeinflussen oder beschädigen die faseroptischen Sensoren von fionec die Oberfläche der Prüfstücke nicht. So ist eine Rauheitsmessung auch auf empfindlichen Materialien wie Optiken, Wafern oder Optical Flats reproduzierbar möglich.

    • Kurze Prüfzyklen

      Mit einer Messfrequenz von bis zu 20 kHz arbeiten die faseroptischen Messsysteme der Serie FDM deutlich schneller als vergleichbare taktile Geräte. Messungen können somit in kürzeren Zyklen oder mit höheren Messpunktdichten durchgeführt und nicht-wertschöpfende Zeiten reduziert werden.

    • Voll integrierbar

      Über Hard- und Softwareschnittstellen ist eine Integration der Messsysteme in bestehende Prozesse problemlos möglich. Fertigung und Prüfung rücken zusammen, eine schnelle Rückführung der Ergebnisse in den Produktionsprozess unterstützt eine kontinuierliche Prozessoptimierung.